ic集成电路（Integrated Circuit，简称IC）是一种由复杂的封装形式封装在一块小型的半导体基片上的电路集成器件，在电子设备和控制系统中有着广泛的应用。ic集成电路的性能和可靠性是电子设备和控制系统的重要指标，因此，ic集成电路的测量和测试对于验证ic的性能和可靠性至关重要。

首先，在测量ic集成电路之前，在实际应用中，首先需要检查ic的状态，确保ic的电子特性符合要求，以便进行测量。此外，需要检查ic的外部连接是否存在断路，短路或漏电等问题，以确保测量结果的准确性。

其次，ic集成电路的测量主要包括两个方面：一是对ic集成电路的电特性性能进行测量；二是对ic集成电路的可靠性进行测量。

具体而言，首先，对ic集成电路的电特性性能进行测量，主要包括ic的输入特性测量、ic的输出特性测量、ic的功耗测量、ic的热特性测量、ic的噪声特性测量等，以及各种参数的测量，例如ic的电压降、电流、频率、功率、电容和电阻等。

其次，对ic集成电路的可靠性进行测量，主要包括ic的绝缘测试、ic的抗振性测试、ic的抗湿性测试、ic的耐压测试、ic的耐温测试、ic的耐热测试、ic的耐腐蚀测试、ic的耐紫外线测试等，以及ic的焊接强度测试、温度补偿性能测试、电气强度测试、可靠性测试等。

最后，ic集成电路测量完成之后，要对ic测量结果进行评估，确定ic的性能和可靠性是否符合预期。如果ic的性能和可靠性符合要求，则ic可以投入实际应用。

总之，ic集成电路测量是一项复杂而重要的工作，通过测量ic集成电路的电特性性能和可靠性，可以更好地验证ic的性能和可靠性，以确保ic的正确性能和可靠性。