电子元件识别与测定是一种复杂而有效的工作，它需要利用现代高科技的技术和手段。它的目的是识别电子元件的特性和性能，同时还可以检查元件是否存在缺陷。

电子元件识别与测定的方法有很多，其中最常用的是微观检查和测试。微观检查是指用显微镜检查电子元件的结构和表面情况，以检查元件是否存在缺陷、损坏或破损。测试是指使用各种仪器和仪表对电子元件的特性和性能进行测量和分析，以确定元件的功能和参数。

在识别和测定电子元件时，最重要的是正确实施操作。首先应对电子元件进行清洁，然后对元件进行微观检查，以确定元件的结构和表面情况。然后应使用合适的仪器和仪表进行测试，包括测量电子元件的特性和性能，并确定元件的功能和参数。

识别和测定电子元件的技术不仅可以用于检查元件是否有效，而且可以用于分析和判断元件的性能，以确定元件的最佳使用条件。此外，识别和测定电子元件的技术还可以用于改进元件的性能，以满足用户的特定需求。

因此，电子元件识别与测定是一项重要的技术，它能够有效地检查和分析电子元件的性能，提高元件的可靠性，确保设备的正常运行，用于改进设备的性能，确保最佳使用条件，满足用户的需求。